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EMI 挑戰和故障排除技術

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如果沒有適當的考慮,EMI可能會阻撓項目行程,造成代價高昂的延遲。通過一個實際故障排除示例,您將瞭解基本的EMI量測、共模和差模雜訊源及識別方法、傳導EMI預合規性測試以及佈局問題等。

本次研討會關注以下問題:

  • 基本 EMI 測量以及 LISN
  • 共模和差模噪聲源
  • 使用仿真模型分析 EMI 預合規性
  • 佈局的考量因素

參會對象

希望瞭解實際應用中的新技術來開發系統架構並選擇電源組件以滿足轉換需求的工程師。

講師介紹

Photo of Chris Swartz

Chris Swartz

高級首席工程師/經理

Chris R. Swartz 目前是 Vicor SiP (System-in-Package) & 先進應用工程組高級首席工程師/經理。Swartz 先生在供電/系統設計、模擬和數位電子設計、EMI和電路仿真及建模等方面擁有 35 年的技術經驗。 他是 IEEE、Providence、RI 美國分會的會員,并在與零電壓開關相關的電力電子領域擁有1項美國專利。 除了 Vicor,Swartz 先生還曾在 Motorola, Inc.,Emerson Electric and Transim Technology Corporation 等公司擔任設計職務。Swartz 已婚并有一個物理學博士候選人的女兒,他為此感到自豪。