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更好的供电方式
提高自动测试设备的吞吐量和运行时间

CPU、GPU 和 SOC 的高密度模块化测试

工厂对更高效测试能力的需求不断增加

工厂对更高效测试能力的需求不断增加

半导体制造商正在对自动测试设备(ATE)公司提出更高的要求,要求他们能够快速可靠地设计出满足不断增长的 IC 需求的测试系统,并且尽可能少地增加成本。IC 制造商将测试成本(CoT)视为成本增加项,虽然必需时只从产品利润中扣除,却需要不断增加工厂占地面积,而不能加速周期和提高产量。ATE 系统制造商需要开发测试系统来满足新 IC 产品的技术需求,并且不会造成产量损失,随着更新换代也只会占用相同或者更少的厂房面积。

高密度、高效率电源模块

高密度、高效率电源模块

高密度和高效率的 Vicor 电源模块使 ATE 系统设计工程师能够实施新的供电网络(PDN)架构,允许在相同或更小尺寸的测试头上增加测试头引脚数。新的数据中心、军事、汽车和工业 IC 消耗的功率不断增加,并且具有多种不同的电压。Vicor 的模块化方法用于 PDN,可使 ATE 制造商能够方便地扩展功率并支持不同的电压,以实现快速开发和快速上市。

更好供电方式的优势

更好供电方式的优势

Industry-leading power density up to 8kW per cubic inch

高达 8kW/in3 的行业领先功率密度

效率高达 98%

效率高达 98%

可扩展的 PDN

可扩展的 PDN

正弦振幅转换器拓扑可最大限度地减少 EMI

正弦振幅转换器拓扑可最大限度地减少 EMI

资源

ATE

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