ATE

更好的供电方式

提高自动测试设备的吞吐量和运行时间

CPU、GPU 和 SOC 的高密度模块化测试

提升半导体老化测试温箱的容量

精密检测设备

工厂对更高效测试能力的需求不断增加

半导体制造商正在对自动测试设备（ATE）公司提出更高的要求，要求他们能够快速可靠地设计出满足不断增长的 IC 需求的测试系统，并且尽可能少地增加成本。IC 制造商将测试成本（CoT）视为成本增加项，虽然必需时只从产品利润中扣除，却需要不断增加工厂占地面积，而不能加速周期和提高产量。ATE 系统制造商需要开发测试系统来满足新 IC 产品的技术需求，并且不会造成产量损失，随着更新换代也只会占用相同或者更少的厂房面积。

高密度、高效率电源模块

高密度和高效率的 Vicor 电源模块使 ATE 系统设计工程师能够实施新的供电网络（PDN）架构，允许在相同或更小尺寸的测试头上增加测试头引脚数。新的数据中心、军事、汽车和工业 IC 消耗的功率不断增加，并且具有多种不同的电压。Vicor 的模块化方法用于 PDN，可使 ATE 制造商能够方便地扩展功率并支持不同的电压，以实现快速开发和快速上市。