半导体制造商依靠高密度测试系统来支持其日益复杂的产品组合。AI 处理器、CPU、GPU、SoC 和移动处理器正在增加更强大的功能，包括射频连接、电源管理和混合信号处理。为了支持这些不同的 IC 功能，ATE 系统需要先进的 PDN 来处理各种不同的功率和电压。这些测试仪的模块化也变得至关重要，因为测试仪需要从测试 1V 下消耗 1000A 的 AI 处理器切换到混合信号 SoC，而其电流仅为处理器电流的一小部分，对 EMI 极为敏感。Vicor 获得专利的正弦振幅转换（SAC）拓扑，其本身高频下的软开关具有很低噪声，大大减少了由于高 EMI 而产生的虚假测试结果。