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更好的供電方式
提升自動測試設備的吞吐量和運行時間

CPU、GPU 和 SOC的高密度模組化測試

工廠對更高效測試能力的需求不斷增加

工廠對更高效測試能力的需求不斷增加

半導製造商正在對自動測試設備(ATE)公司提出更高的要求,要求他們能够快速可靠地設計出滿足不斷增長的 IC 需求的測試系統,並且盡可能少地新增成本。 IC 製造商將測試成本(CoT)視為成本新增項,雖然必需時只從產品利潤中扣除,卻需要不斷增加工廠占地面積,而不能加速週期和提高產量。 ATE 系統製造商需要開發測試系統來滿足新 IC 產品的技術需求,並且不會造成產量損失,隨著更新換代也只會佔用相同或者更少的廠房面積。

高密度、高效率電源模組

高密度、高效率電源模組

高密度和高效率的 Vicor 電源模組使 ATE 系統設計工程師能够實施新的供電網路(PDN)架構,允許在相同或更小尺寸的測試頭上新增測試頭引脚數。 新的資料中心、軍事、汽車和工業 IC 消耗的功率不斷增加,並且具有多種不同的電壓。 Vicor 的模組化方法用於 PDN,可使 ATE 製造商能够方便地擴展功率並支持不同的電壓,以實現快速開發和快速上市。

更好供電方式的優勢

更好供電方式的優勢

Industry-leading power density up to 8kW per cubic inch

高達 8kW/in3 的行業領先功率密度

效率高達 98%

效率高達 98%

可擴展的 PDN

可擴展的 PDN

正弦振幅轉換器拓撲可最大限度地减少 EMI

正弦振幅轉換器拓撲可最大限度地减少 EMI

資源

ATE

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